可以改变样本板材的厚度，可以被单独或成组测量，从而突出在同一样板不同点位的材料密度分布情况的特定差异。（板材两个表面的密度分布情况等） 该系统基于X射线控制理论，能够在材料与测量仪器没有任何接触的情况下分析剖面密度。它由一个X射线源和一个接收器构成，在二者之间放置剖面密度测试样本。 对于被测材料的理想的辐射强度可由X射线管的变化电流和电压获得。被采用的接收器具有快速响应和高精确度是其两大主要特点。 这两大特点的结合促使以下现实成为可能，有史以来第一次达到了一个惊人的速度，而且在同时，还能保持卓越的精确度和出色的测量重复性。特点： 平均密度

     镜像同一条剖面密度曲线，从而强调在两个表面之间可能存在的任何差异。

     密度值最大点和最小点

     剖面密度表示为百分比，或者密度单位kg/m3或lb/ft³

     在一个图表中比对两个不同的剖面密度

     放大密度曲线的任何一个区域

     试件装载和测量快速并简易 DPX300 DPX300 LTE

    Size of sample holder

    试件夹具尺寸 2x350 mm 1X100 mm

    Sample thickness 试件厚度 1-100 mm 1-100 mm

    Measuring technology adopted

    采用的测量技术 Collimated X-ray source

    29 KV, 1.2mA

    校准X射线源 Collimated X-ray source

    29 KV, 0.5mA

    校准X射线源

    Scanning speed 扫描速度 0.01-0.5 mm/sec

    Operating temperature

    工作温度 5 - 45°C

    Resolution 分辨率 0.01mm - 0.05mm

    Repeatibility 重复性 0.1%

    Accuracy 精度 ± 0.1 %

    Data processing standards 数据处理标准 DIN, EN, ASTM, ANSI

    Power supply 电源供应 110 V or 220 V